Pendulum HRE EMC 3D/4D 스캐너

MODEL: HRE 시리즈
브랜드: PENDULUM
제품 자료: 데이터시트

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PCB·IC 위 방사원을
25 µm 간격으로 찾는 스캐너

Pendulum Instruments HRE 시리즈 EMC 고해상도 3D/4D 스캐너

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Pendulum 국내 정식 공급 파트너

Pendulum Instruments HRE 시리즈는 25 µm 스텝과 ±0.02 mm 위치 정확도로 PCB와 IC 위의 근접장을 3D로 스캔하는 EMC 고해상도 근접장 스캐너(High-Resolution EMC Scanner)입니다. 4D 모델은 프로브까지 회전시키며, 390 × 280 × 130 mm 영역에서 미세한 방사원을 찾습니다.

200 × 200 mm 영역을 10 mm 스텝으로 4분에 훑어 해상도가 높아도 대면적 스캔이 느려지지 않고, 3 GHz 또는 6 GHz 프로브 키트에 10 GHz 업그레이드 키트를 더해 대역을 넓힐 수 있습니다. Windows 소프트웨어는 VISA 스펙트럼 분석기 100여 종과 연동하며, (주)테솔이 국내에 공식 공급합니다.

25 µm

X·Y·Z 최소 스텝 크기

±0.02 mm

프로브 위치 정확도

390 × 280 mm

X·Y 스캔 영역

0~360°

HRE-43 프로브 회전 범위

특징

미세 방사원까지
좁혀 가는 고해상도

핵심 특징	현장에서 달라지는 점
25 µm 최소 스텝	IC와 컴팩트 모듈처럼 좁은 영역의 방사원을 칩 구조 단위로 구분합니다.
±0.02 mm 위치 정확도	재스캔 때도 같은 좌표를 찾아가므로 설계 변경 전후의 결과를 같은 위치에서 비교합니다.
프로브 회전 (HRE-43)	0~360°를 1° 단위로 돌려 방향에 따라 달라지는 방사의 최악값을 찾습니다.
IC 측정 옵션	10 µm/픽셀 검사 카메라로 프로브 위치를 확대해 보며 IC 위에서 스캔합니다.
빠른 대면적 스캔	큰 보드의 개요 스캔을 단시간에 끝내고 의심 구역만 정밀 스캔으로 이어 갑니다.
스캔 결과 차감	두 스캔을 빼서 보드 변경점이 만든 방사 차이만 보여 줍니다.

IC 측정

IC 위 핫스팟을
찾는 구성

IC 단위 측정은 SICM 옵션으로 시작합니다. 10 µm/픽셀 검사 카메라와 조명, IC 프로브용 고정구가 포함되고, 확대·이동·스크린샷 기능으로 프로브가 놓인 칩 위치를 화면에서 확인합니다.

IC 전용 H-필드 프로브(1.5~6 GHz)와 E-필드 프로브

SPHV와 SPHH는 1.5~6 GHz 대역의 수직·수평 H-필드 IC 프로브이고, SPEF는 7 MHz~3 GHz의 E-필드 프로브입니다. 세 프로브 모두 SICM 옵션이 있어야 장착하므로 IC 스캔을 계획한다면 주문 단계에서 함께 구성하세요.

스캔 운용

시스템 구성과
인터페이스

완전한 시스템은 스캐너 본체와 Detectus Scanning SW, 스펙트럼 분석기, PC로 이루어지며 분석기와 PC는 보유 장비를 사용하는 경우가 많습니다. 본체 후면에는 D-Sub 9핀 RS232 포트와 10/100 Mbps RJ45 이더넷 포트가 있고, 분석기는 RS232, USB, GPIB(NI 어댑터 필요), LAN 같은 VISA 인터페이스로 연결합니다.

사용 방법

HRE 스캐너 연결과
Detectus 소프트웨어 첫 스캔

HRE는 스캐너 본체, Detectus Scanning SW(DSS), 스펙트럼 분석기, PC로 한 시스템을 이룹니다. 본체 후면의 RS232·이더넷 포트와 분석기의 VISA 인터페이스로 연결합니다.

소프트웨어·도구	하는 일
Detectus Scanning SW (DSS)	스캔 설정, 프로브 지정, 2D·3D 색 지도 표시, 스캔 비교
MultiScan	측정 대역 안의 임의 주파수 필드 지도
NI-VISA / NI MAX	LAN·GPIB 스펙트럼 분석기 등록
SPCK 프로브 교정 키트 (옵션)	프로브 주파수 응답 교정

처음 연결하는 순서

순서	할 일
1	PC가 Windows 10 이상인지 확인하고 함께 제공된 USB 메모리의 스캐너 소프트웨어를 설치합니다.
2	LAN 분석기는 NI MAX에서 Network Devices의 VISA TCP/IP Device로 등록합니다.
3	DSS를 시작하고 스캐너 초기화 질문에 Yes를 누릅니다.
4	Config 탭에서 스펙트럼 분석기와 프로브 설정을 Edit로 지정합니다.
5	Meas. points 탭에서 Step size와 Grid를 정하고 Meas. EMC 탭의 Pre-Scan을 실행합니다.

분석기를 GPIB로 연결할 때는 NI 어댑터가 필요하고 NI MAX에서 Scan for Instruments로 인식되는지 먼저 확인하세요.

기판 위 근접 전자파 분포를 색으로 나타낸 스캔 화면

사양

HRE-03·HRE-43
모델별 사양

항목	HRE-03	HRE-43
스캔 차원	3D	3D + 프로브 회전 (4D)
프로브 회전	미지원	0~360° (1° 분해능)
스캔 영역 (X, Y, Z)	390 × 280 × 130 mm	390 × 280 × 130 mm
주문 코드	HRE-03/3G, HRE-03/6G	HRE-43/3G, HRE-43/6G
크기 (W × H × D)	780 × 850 × 810 mm	780 × 850 × 810 mm
순중량	150 kg	150 kg
운송 중량 (팔레트 포함)	약 170 kg	약 170 kg

시리즈 공통 사양

항목	사양
스텝 크기 (X, Y, Z)	최소 0.025 mm (25 µm)
위치 정확도	±0.02 mm
스캔 속도	200 × 200 mm 영역, 10 mm 스텝 기준 4분
3 GHz 프로브 키트	LF-B 3 (수직 H-필드, 100 kHz~50 MHz), RF-B 0.3-3 (수직 H-필드, 30 MHz~3 GHz), RF-R 0.3-3 (수평 H-필드, 30 MHz~3 GHz), RF-E 03 (E-필드, 30 MHz~3 GHz), PA 303 프리앰프 (30 dB, 3 GHz까지)
6 GHz 프로브 키트	LF-B 3 (수직 H-필드, 100 kHz~50 MHz), XF-B 3-1 (수직 H-필드, 30 MHz~6 GHz), XF-R 3-1 (수평 H-필드, 30 MHz~6 GHz), XF-E 04s (E-필드, 30 MHz~6 GHz), PA 306 프리앰프 (30 dB, 100 kHz~6 GHz)
10 GHz 업그레이드 키트 (옵션 S310)	SX-B 3-1 (수직 H-필드, 1~10 GHz), SX-R 3-1 (수평 H-필드, 1~10 GHz), SX-E 05 (E-필드, 1~10 GHz), PA 3010 프리앰프 (30 dB, 10 MHz~10 GHz)
IC 프로브 (옵션 SICM 필요)	SPHV (수직 H-필드, 1.5~6 GHz), SPHH (수평 H-필드, 1.5~6 GHz), SPEF (E-필드, 7 MHz~3 GHz)
IC 측정 카메라	10 µm/픽셀 검사 카메라, 확대·이동·스크린샷
후면 포트	RS232 (D-Sub 9핀 암), 이더넷 (RJ45, 10/100 Mbps)
소프트웨어	Detectus Scanning SW(DSS), MultiScan(측정 대역 내 임의 주파수의 2D·3D 필드 색 지도), 스캔 결과 차감, STL 표면 모델 불러오기 및 3점 정렬
내성 시험 모드	신호 발생기, 안테나, 오류 감지 장치 연결, AM·FM·펄스 변조 지원 (SSWU 옵션)
PC 요구 사양	Windows 10 이상
스펙트럼 분석기 연동	VISA 인터페이스(RS232, USB, GPIB는 NI 어댑터 필요, LAN) 지원 기기 100여 종
프로브 주파수 응답 교정	반자동, 스트립라인 교정 옵션과 SPCK 제어 SW 사용, 10 MHz~6 GHz
프로브 위치 교정	반자동, 스캐너 내장 비콘 사용
전원	115 V / 230 V (-15% / +10%), 50/60 Hz, 소비전력 1150 W 미만
동작 온도 / 보관 온도	+10 ~ +35 °C / -40 ~ +71 °C
습도	20 ~ 80% (+10 ~ +35 °C 조건)
안전·EMC 규격	관련 EN 규격 및 FCC 규격 적합, CE
기본 구성품	전원 코드, 스캐너 소프트웨어와 문서 수록 USB 메모리, 적합성 증명서
옵션	S310 10 GHz 업그레이드 키트, SICM IC 측정 옵션, SPHV·SPHH·SPEF IC 프로브, SSWU 내성 시험 SW, SUSS 1년 지원 및 소프트웨어 업데이트 구독, SPCK 프로브 교정 키트(스트립라인, 50 Ω 종단, 소프트웨어), SNSA N형 수컷-SMA 암컷 어댑터, RSA-R306B Tektronix USB 스펙트럼 분석기(9 kHz~6.2 GHz)
보증	2년 (제품 등록 시 3년으로 연장)

활용 분야

미세 방사원을
찾는 개발 현장

IC 설계 검증 — 칩 위의 방사 핫스팟을 IC 프로브와 검사 카메라로 위치까지 확인합니다.
컴팩트 모듈 개발 — 좁은 공간에 밀집한 부품 사이의 EMI 노이즈 경로를 분석합니다.
보드 레이아웃 비교 — 설계 변경 전후의 두 스캔을 차감해 개선 여부를 확인합니다.
사전 EMC 점검 — 인증 시험 전에 방사 위치를 파악해 수정 범위를 정합니다.

선택 가이드

프로브 회전 여부와
대역 선택

이럴 때 (현장 조건)	권장 구성	선택 이유
3D 스캔만으로 충분할 때	HRE-03	스캔 영역과 본체 크기는 같고 프로브 회전만 없습니다.
방향별 최악값까지 확인할 때	HRE-43	프로브를 0~360°, 1° 단위로 회전시킵니다.
6 GHz 이하 대역을 볼 때	/3G 또는 /6G 패키지	3 GHz 또는 6 GHz 프로브 키트가 본체에 포함됩니다.
6 GHz를 넘는 대역을 볼 때	/6G + S310	10 GHz 업그레이드 키트가 1~10 GHz 프로브를 더합니다.
더 큰 DUT를 0.1 mm 스텝으로 볼 때	Pendulum SCN 시리즈	스텝 크기는 0.1 mm이지만 스캔 영역이 최대 600 × 400 × 300 mm까지 넓습니다.

구성·옵션

기본 구성과
선택 옵션

구성품 · 옵션	설명
HRE-03 · HRE-43	스캐너 본체 2종, HRE-03은 3D, HRE-43은 3D에 프로브 회전을 더한 4D
/3G · /6G 패키지	3 GHz 또는 6 GHz 프로브 키트 포함
전원 코드 · 스캐너 SW · USB 문서 · 적합성 증명서	기본 구성품
S310 업그레이드 키트	10 GHz까지 확장 (옵션)
SICM · SPHV · SPHH · SPEF	IC 측정 옵션과 IC 프로브 (옵션)
SSWU · SPCK	내성 시험 SW와 프로브 교정 키트 (옵션)
SUSS · SNSA · RSA-R306B	1년 지원 구독, 변환 어댑터, USB 스펙트럼 분석기 (옵션)

HRE와 함께 보는
진단·점검 장비

Pendulum Instruments SCN 시리즈 EMC 근접장 스캐너
Fluke iSee TC03A PRO (50 Hz) 안드로이드용 모바일 열화상 카메라
Fluke iSee ii01 모바일 음향 이미징 카메라

HRE는 SCN 시리즈와 무엇이 다릅니까?
HRE는 스텝 크기가 25 µm까지 내려가는 고해상도 스캐너입니다. SCN 시리즈의 최소 스텝은 0.1 mm이므로 IC나 컴팩트 모듈 수준의 방사원은 HRE로 구분합니다.
HRE로 IC 단위 스캔도 할 수 있습니까?
네, SICM 옵션의 10 µm/픽셀 검사 카메라와 IC 전용 프로브(SPHV, SPHH, SPEF)를 사용합니다. 이 프로브는 SICM 옵션 없이는 장착할 수 없습니다.
HRE 프로브는 어느 주파수까지 사용할 수 있습니까?
/3G 또는 /6G 패키지는 3 GHz 또는 6 GHz 프로브 키트를 포함하고, S310 업그레이드 키트를 더하면 10 GHz까지 확장됩니다. 연결하는 스펙트럼 분석기도 해당 대역을 지원해야 합니다.
HRE를 쓰려면 PC와 스펙트럼 분석기도 함께 준비해야 합니까?
네, 완전한 시스템에는 Windows 10 이상 PC와 스펙트럼 분석기가 필요합니다. 보유 장비를 연결하며, 분석기가 없으면 RSA-R306B USB 스펙트럼 분석기를 옵션으로 구성합니다.

Pendulum HRE EMC 3D/4D 스캐너

PCB·IC 위 방사원을
25 µm 간격으로 찾는 스캐너